دوره 28، شماره 4 - ( 12-1394 )                   جلد 28 شماره 4 صفحات 290-297 | برگشت به فهرست نسخه ها

XML English Abstract Print


Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:

Mirzaie M, Yasini E, Omrani L R, Rokni M, Darvishpour H. Microleakage of class V cavities restored with nanofilled resin modified glass ionomer and conventional glass ionomer with self etch adhesive and self etch primer. jdm. 2016; 28 (4) :290-297
URL: http://jdm.tums.ac.ir/article-1-5436-fa.html
میرزایی منصوره، یاسینی اسماعیل، عمرانی لادن رنجبر، رکنی مرتضی، درویش‌پور حجت. بررسی و مقایسه ریزنشت Nanofilled resin modified glass ionomer و Conventional glass ionomer در حفرات کلاس V با استفاده از دو نوع باندینگ Self etch adhesive و Self etch primer. مجله دندانپزشکی. 1394; 28 (4) :290-297

URL: http://jdm.tums.ac.ir/article-1-5436-fa.html


1- دانشیار گروه آموزشی ترمیمی و زیبایی، دانشکده دندانپزشکی، دانشگاه علوم پزشکی و خدمات بهداشتی، درمانی تهران
2- استاد گروه آموزشی ترمیمی و زیبایی، دانشکده دندانپزشکی، دانشگاه علوم پزشکی و خدمات بهداشتی، درمانی تهران،
3- -3 استادیار گروه آموزشی ترمیمی و زیبایی، دانشکده دندانپزشکی، دانشگاه علوم پزشکی و خدمات بهداشتی، درمانی تهران
4- دندانپزشک
5- ارتودنتیست
چکیده:   (4120 مشاهده)

زمینه و هدف: ریزنشت به عنوان معیاری جهت ارزیابی موفقیت هر ماده ترمیمی مطرح بوده و دستیابی به سیل مناسب نیز در مارجین‌ها مشکلات خاص خود را دارد، به ویژه در مارجین‌های عاجی بسیار مشکل‌تر از مینای دندان می‌باشد. تحقیق حاضر با هدف مقایسه‌ ریزنشت در مارجین‌های مینایی و عاجی حفره‌های کلاس V در دو نوع GI با استفاده از دو نوع باندینگ مختلف Self etch انجام شد.

روش بررسی: در سطوح باکال و لینگوال 40 دندان‌ مولر، حفره‌های کلاس V تهیه شد؛ طوری که مارجین اکلوزالی حفرات در مینا و مارجین ژنژیوالی آن‌ها
1 میلی‌متر پایین‌تر از CEJ قرار بگیرد. دندان‌ها به 4 گروه تقسیم شدند:گروه 1:Fuji IX ، G bond گروه 2: Fuji IX، SE bond گروه 3: GCP Glass fill،
G bond گروه 4: GCP glass fill، SE bond. نمونه‌ها تحت چرخه‌های حرارتی قرار گرفتند؛ میزان ریز نشت اندازه‌گیری شد. جهت مقایسه‌ ریزنشت از آزمون Kruskal-Wallis و برای مقایسه‌ دو به دوی آن‌ها از تصحیح Bonferroni استفاده شد (05/0P≤).

یافته‌ها: رتبه‌های ریزنشت در دیواره‌ اکلوزال و ژنژیوال تمام گروه‌های آزمایشی برابر بوده است. در دیواره‌ ژنژیوال، کمترین رتبه‌های ریزنشت مربوط به گروه Fuji IX+SE bond بوده و تفاوت آن با گروه‌های Fuji IX+G bond و Nanoglass+G bond معنی‌دار بود (05/0P≤). در دیواره‌ی اکلوزال؛ کمترین ریزنشت در گروه Fuji IX+SE bond دیده شد که با هر 3 گروه دیگر تفاوت معنی‌داری داشته است (05/0P≤).

نتیجه‌گیری: استفاده از SE bond در مقایسه با G bond در کاهش میزان ریزنشت انواع سمان‌های گلاس‌آینومر fuji IX) و (GCP glass Fill مؤثر بوده است.

واژه‌های کلیدی: ریزنشت، سمان گلاس آینومر، باندینگ
متن کامل [PDF 205 kb]   (1795 دریافت)    
نوع مطالعه: تحقیقی | موضوع مقاله: عمومی
دریافت: 1394/12/12 | پذیرش: 1394/12/12 | انتشار: 1394/12/12

ارسال نظر درباره این مقاله : نام کاربری یا پست الکترونیک شما:
CAPTCHA

ارسال پیام به نویسنده مسئول


کلیه حقوق این وب سایت متعلق به مجله دندانپزشکی می باشد.

طراحی و برنامه نویسی : یکتاوب افزار شرق

© 2020 All Rights Reserved | Journal of Dental Medicine

Designed & Developed by : Yektaweb