Journal of Dental Medicine
مجله دندانپزشکی
J Dent Med-tums
Medical Sciences
http://jdm.tums.ac.ir
1
admin
1024-641X
2008-2444
000
000
000
000
000
fa
jalali
1391
12
1
gregorian
2013
3
1
26
1
online
1
fulltext
fa
مطالعه پروفایلومتری و میکروسکوپ الکترونی اثر پرداخت بر خشونت سطحی دو نوع کامپوزیت (با بیس سایلوران و متیل متاکریلات) و یک نوع گلاس آینومر
Profilometeric and SEM evaluation of effect of polishing on surface roughness of two composites (silorane-based and methylmethacrylate-based) and a Glass Ionomer
عمومی
general
تحقیقی
Research
<strong>زمینه</strong><strong> </strong><strong>و</strong><strong> </strong><strong>هدف</strong><strong>:</strong> هدف از مطالعه حاضر بررسی اثر پرداخت بر خشونت سطحی کامپوزیت با بیس سایلوران و مقایسه آن با کامپوزیت با بیس متاکریلات و یک نوع گلاسآینومر به وسیله پروفایلومتری و مطالعه با میکروسکوپ الکترونی (SEM) بود.</p> <p dir="rtl"><strong>روش</strong><strong> </strong><strong>بررسی</strong><strong>:</strong> برای هرکدام از مواد مورد مطالعه (کامپوزیت Filltek P90، کامپوزیت Filtek P60 و گلاسآینومر Fuji IX) 28 نمونه تهیه شد. آمادهسازی نمونهها در مولد پلیاتیلن با قطر 4 میلیمتر و ارتفاع 10 میلیمتر انجام شد. نیمی از نمونههای هر ماده توسط کاغذ سنباده 180 grit از جنس سیلیکون کارباید و در حضور آب اتمام (finish) شد. سطح نیمی دیگر از نمونهها ابتدا با کاغذ سنباده 180 grit و سپس به ترتیب با کاغذ سنبادههای 250، 400، 800، 1000، 2000 و 2500 grit و در حضور آب پرداخت گردید. خشونت سطحی نمونهها توسط پروفایلومتر تماسی بررسی شد و مقادیر متوسط خشونت سطحی (R<sub>a</sub>) و حداکثر خشونت سطحی (R<sub>max</sub>) توسط دستگاه مشخص گردید. سپس از هر 6 گروه مورد مطالعه، 4 نمونه به صورت تصادفی انتخاب گردید و تحت میکروسکوپ الکترونی FE-SEM سطح آنها بررسی شد. آنالیز آماری توسط آزمون t، آنالیز واریانس و آزمون Dunnett T3 انجام شد.</p> <p dir="rtl"><strong>یافتهها:</strong> در هر 3 ماده، Ra بین 180 و 2500grit متفاوت بود. در 180 grit، Ra تنها بین Filtek P60 و Fuji IX اختلاف معنیداری داشت (01/0P=). Ra با استفاده از سمباده 2500grit تنها بین Filtek P90 و Filtek P60 تفاوت معنیداری نشان نداد (56/0P=).</p> <p dir="rtl"><strong>نتیجهگیری:</strong> در گلاسآینومر و ترمیمهای کامپوزیتی خلفی مرحله پرداخت توصیه میشود.</p> </span>
<p style="text-align: justify"><strong>Background and Aims:</strong> To evaluate the effect of polishing on surface roughness of silorane-based composite using profilometery and Scanning Election Microscopy (SEM) and compare it with that of a methylmethacrylate-based composite and a glass ionomer.</p>
<p style="text-align: justify"><strong>Materials and Methods:</strong> In this study, 3 groups (n=28) were tested: specimens of two composites (Filtek P90 and Filtek P60) and a glass ionomer (Fuji IX) which were prepared in polyethylene molds (4 mm diameter×10 mm height). Half of the specimens in each group were finished with 180-grit silicon carbide paper and the remaining were finished with 180-grit, and subsequently polished with 250, 400, 800, 1000, 2000, and 2500-grit silicon carbide papers. The surface roughness was evaluated using a contact profilometer and then mean (R<sub>a</sub>) and maximum (R<sub>max</sub>) of surface roughness were recorded. Then, the surface of 4 specimens of each subgroup was observed under SEM. Statistical analysis was performed with T-test, ANOVA and Dunnett T3 tests.</p>
<p style="text-align: justify"><strong>Results:</strong> In all materials, Ra was different between polishing with 180 and 2500-grit silicon carbide papers. In 180-grit group, only R<sub>a</sub> of Filtek P60 and Fuji IX showed significant difference (P=0.01). In 2500-grit group, there was no significant difference between the Ra of Filtek P60 and Filtek P90 (P=0.56).</p>
<p style="text-align: justify"><strong>Conclusion:</strong> Polishing is recommended for the glass ionomer and posterior composite restorations.</p>
کامپوزیت,پرداخت,گلاسآینومر
Composite,Polishing,Glass Ionomer
33
41
http://jdm.tums.ac.ir/browse.php?a_code=A-10-25-5&slc_lang=fa&sid=1
Masumeh
Hasani Tabatabaei
معصومه
حسنی طباطبایی