روش بررسی: برای هرکدام از مواد مورد مطالعه (کامپوزیت Filltek P90، کامپوزیت Filtek P60 و گلاس‌آینومر Fuji IX) 28 نمونه تهیه شد. آماده‌سازی نمونه‌ها در مولد پلی‌اتیلن با قطر 4 میلی‌متر و ارتفاع 10 میلی‌متر انجام شد. نیمی از نمونه‌های هر ماده توسط کاغذ سنباده 180 grit از جنس سیلیکون کارباید و در حضور آب اتمام (finish) شد. سطح نیمی دیگر از نمونه‌ها ابتدا با کاغذ سنباده 180 grit و سپس به ترتیب با کاغذ سنباده‌های 250، 400، 800، 1000، 2000 و 2500 grit و در حضور آب پرداخت گردید. خشونت سطحی نمونه‌ها توسط پروفایلومتر تماسی بررسی شد و مقادیر متوسط خشونت سطحی (R_a) و حداکثر خشونت سطحی (R_max) توسط دستگاه مشخص گردید. سپس از هر 6 گروه مورد مطالعه، 4 نمونه به صورت تصادفی انتخاب گردید و تحت میکروسکوپ الکترونی FE-SEM سطح آنها بررسی شد. آنالیز آماری توسط آزمون t، آنالیز واریانس و آزمون Dunnett T3 انجام شد.

یافته‌ها: در هر 3 ماده، Ra بین 180 و 2500grit  متفاوت بود. در 180 grit، Ra تنها بین Filtek P60 و Fuji IX اختلاف معنی‌داری داشت (01/0P=). Ra با استفاده از سمباده 2500grit  تنها بین Filtek P90 و Filtek P60 تفاوت معنی‌داری نشان نداد (56/0P=).

نتیجه‌گیری: در گلاس‌آینومر و ترمیم‌های کامپوزیتی خلفی مرحله پرداخت توصیه می‌شود.